北理工分析測試中心舉辦顯微成像分析技術交流會
發(fā)布日期：2021-10-21 供稿：分析測試中心 張芳 攝影：陳尚
編輯：李世青 審核：彭紹春 閱讀次數(shù)：
“十三五”以來,，北京理工大學分析測試中心緊密圍繞學校“雙一流”建設中心任務,，以滿足多學科發(fā)展及高層次人才需求為主要目標,，累計引進雙球差校正電鏡、單球差校正電鏡,、場發(fā)射透射電鏡,、雙束掃描電鏡,、原子力顯微鏡等大型電鏡類儀器設備，打造了設備種類多樣,、搭配合理,、功能全面、性能優(yōu)異的高水平電鏡平臺,，為我校相關學科的科學研究和人才培養(yǎng)工作起到重要的支撐保障作用,。
為使我校師生更好的了解掃描電鏡技術與應用的最新進展，10月15日,，中心聯(lián)合卡爾·蔡司公司在良鄉(xiāng)校區(qū)工業(yè)生態(tài)樓118會議室舉辦了顯微成像分析技術研討會,。本次交流會由中心電鏡平臺主管張芳主持，特邀蔡司公司高級應用工程師楊瑞和沙學超作報告,。來自化學與化工學院,、物理學院、材料學院,、光電學院,、先進結(jié)構(gòu)技術研究院、前沿交叉科學研究院,、醫(yī)工融合研究院,、徐特立學院、求是書院等單位的80余名師生到場參會,。
中心副主任許冰致歡迎詞,，介紹了中心近幾年來的發(fā)展建設、電鏡平臺大型設備的引進及配置情況,，并向蔡司公司對本次交流會的支持表示感謝,。蔡司公司高級應用工程師楊瑞為與會師生介紹了蔡司掃描電鏡最新技術進展，分享了掃描電鏡在金屬材料,、電池材料,、高分子復合材料等領域的應用；蔡司北京實驗室應用工程師沙學超為與會師生介紹了LaserFIB最新技術的進展和發(fā)展趨勢,，分享了LaserFIB在材料科學樣品制備領域的最新應用,。與會師生們就自己在科研課題中遇到的相關表征與分析的技術問題與專家進行了深入交流，專家們詳細講述了如何利用掃描電鏡表征與分析技術去解決在科學研究中遇到的各種實際問題并做出高水平學術成果,。
交流會結(jié)束后,，與會人員參觀了中心電鏡平臺各實驗室，并與中心技術人員開展了現(xiàn)場交流,。此次交流會是中心“我為群眾辦實事”系列活動之一,，得到了參會師生的高度認可。中心將繼續(xù)圍繞我校相關學科的發(fā)展建設，以廣大師生的切實需求為出發(fā)點,，繼續(xù)舉辦此類活動,，促進廣大師生交流，提高專業(yè)人員專業(yè)技能,，充分發(fā)揮中心在學?！半p一流”建設中的重要作用。
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